通常环境可靠性试验分为以下三类:力学环境试验、气候环境试验和综合环境试验。力学环境试验主要包括机械振动、机械冲击、跌落、碰撞、稳态加速度试验等,气候环境试验主要包括温度试验、温湿度试验、气压试验、水试验、盐雾试验、砂尘试验、气体腐蚀试验等,综合环境试验主要包括温度气压综合试验、温度振动综合试验、温度湿度振动综合试验、温度气压湿度综合试验等。
环境可靠性试验可以在产品的研发阶段、试产阶段和量产抽检阶段对产品的可靠性进行验证,有利于企业节省研发和生产成本、提高产品质量。
1、低温试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温GB/T2423.1-2008, IEC60068-2-1:2007
2、高温试验: .
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温GB/T2423.2-2008 ,IEC60068-2-2:2007
3、恒定湿热试验:
环境试验第2部分:试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T2423.50-2012, IEC60068-2-67:1995
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验GB/T 2423.3-2006, IEC 60068-2-78: 2001
4、交变湿热试验:
:电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Db:交变湿热(12h + 12h循环) GB/T2423.4-2008, IEC 60068-2-30:2005
5、振动试验: .
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fi:振动混合模式GB/T 2423.58-2008, IEC 60068-2-80:2005电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fh:宽带随机振动(数字控制)和导则GB/T 2423.56-2006, IEC 60068-2-64:1993
电 工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc和导则:振动(正弦) GB/T 2423.10-2008, IEC 60068-2-6:1995
6、温度变化
试验环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化GB/T 2423.22-2012, IEC 60068-2-14:2009
7、温度/湿度组合循环试验:
环境试验第2部分:试验方法试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验GB/T 2423.34-2012,IEC 60068-2-38:2009
8、自由跌落试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ed:自由跌落GB/T 2423.8-1995, IEC 60068-2-32:1990
9、机械冲击试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击GB/T 2423.5-1995, IEC 60068-2-27:1987
10、碰撞试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Eb和导则:碰撞GB/T 2423.6-1995,IEC 60068-2-29:1987
11、倾跌与翻倒试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ec和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品) GB/T 2423.7-1995, IEC 60068-2-31:1982
12、砂尘试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验L:沙尘试验GB/T 2423.37-2006, IEC 60068-2-68:1994
13、 盐雾试验:
人造气氛腐蚀试验盐雾试验GB/T 10125-2012, ISO 9227:2006
电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Ka:盐雾GB/T 2423.17-2008, 1EC60068-2-11:1981
14、 温度冲击:
环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化GB/T 2423.22-2012, IEC 60068-2-14:2009
15、外壳防护试验:
外壳防护等级(IP代码) GB 4208-2008,IEC 60529:2001
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验R:水试验方法和导则GB/T 2423.38-2008, IEC 60068-2-18:2000
16、 低温/振动(正弦)综合试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验GB/T 2423.35-2005, IEC 60068-2-50:1983
17、高温/振动(正弦)综合试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/BFc:散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验GB/T 2423.36-2005, IEC 60068-2-51:1983
18、 温度(低温、 高温) /低诉/振动(随机)综合:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/ABMFh:温度(低温、 高温) /低诉/振动(随机)综合GB/T 2423.59-2008
19、 (低温、 高温) /低气压/振动(正弦)综合GB/T 2423.102-2008
20、可靠性试验:
设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5080.7-1986, IEC 60605-7:1978
设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T 5080.6-1996,IEC 60605-6:1989
设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T 5080.5-1985,IEC 60605-5:1982
设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布) GB/T 5080.4-1985. IEC 60605-4:1978
可靠性试验第2部分:试验周期设计GB/T 5080.2-2012, IEC 60605-2:1994
可靠性试验第1部分:试验条件和统计检验原理GB/T 5080.1-2012, IEC 60300-3-5:2001